Особенности и виды микроскопов

Микроскопия используется для осмотра образцов с помощью оптического или цифрового увеличения для улучшения внешнего вида мелких деталей. Это отличается от макроскопии, которая предполагает осмотр образца невооруженным глазом. К слову, все необходимое лабораторное оборудование можно приобрести на сайте компании Лабомет.

Микроскоп биологический лабораторный PRIMO STAR Carl Zeiss: продажа, цена в Харькове. Медицинские и лабораторные анализаторы от "ООО "Глобал-Медика"" - 412707500

Оптическая микроскопия используется для исследования при увеличении до 1 000 раз микроструктур. Электронная микроскопия с увеличением до 500 000 раз обычно используется для анализа отказов в научно-исследовательских лабораториях и учебных заведениях.

В зависимости от характера заготовки и объекта исследования в материалографических испытаниях используются четыре типа микроскопии, которые описаны ниже.
Оптическая микроскопия
При оптической микроскопии используются различные фильтры для улучшения контрастности и подчеркивания специфических особенностей, основанных на свойствах материала. Этого можно достичь при увеличении, как правило, от 2,5 до 1 000 раз. В материаловедении отраженный свет является наиболее часто используемым типом световой оптической микроскопии. Пропускающая оптическая микроскопия также используется, но в основном для образцов минералогии.

Стереоскопическая оптическая микроскопия
Стереомикроскоп — это разновидность оптического микроскопа, предназначенная для наблюдения образца с малым увеличением, используя свет, отраженный от поверхности образца.

Сканирующая электронная микроскопия
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это тип электронного микроскопа, который позволяет получать изображения образца путем сканирования поверхности образца сфокусированным пучком электронов. Электроны взаимодействуют с атомами в образце, создавая различные сигналы, которые могут быть преобразованы в информацию о топографии поверхности и составе образца.

Трансмиссионная электронная микроскопия
В просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) используется пучок электронов, пропускаемый через ультратонкий образец и взаимодействующий с образцом по мере прохождения через него. Генерируемые сигналы могут быть преобразованы в различные виды информации, включая информацию о типе и ориентации отдельных кристаллов.